產品優勢(shi)：一(yi)、模(mo)塊化設計：Nicomp380納米激(ji)光(guang)(guang)(guang)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)是全球率(lv)先(xian)在(zai)應用動(dong)(dong)態光(guang)(guang)(guang)散(san)射技術(shu)上(shang)的(de)(de)(de)(de)基礎上(shang)加(jia)入(ru)多模(mo)塊方法的(de)(de)(de)(de)先(xian)進(jin)粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)。隨(sui)著模(mo)塊的(de)(de)(de)(de)升級和增加(jia)，Nicomp380的(de)(de)(de)(de)功(gong)能體系越(yue)來越(yue)強大，可(ke)(ke)以(yi)(yi)用于各(ge)種(zhong)復雜體系的(de)(de)(de)(de)檢(jian)測(ce)分(fen)(fen)(fen)析(xi)。二(er)、自動(dong)(dong)稀釋(shi)模(mo)塊（選配）：自動(dong)(dong)稀釋(shi)模(mo)塊消除了人工(gong)稀釋(shi)高濃度(du)(du)樣品帶(dai)來的(de)(de)(de)(de)誤(wu)差，且不(bu)需(xu)要人工(gong)不(bu)斷試錯來獲得(de)合適的(de)(de)(de)(de)測(ce)試濃度(du)(du)，這縮短了測(ce)試者寶貴時(shi)(shi)間，且無(wu)需(xu)培訓(xun)，測(ce)試結果重現性好，誤(wu)差率(lv)＜1%。三、380/HPLD大功(gong)率(lv)激(ji)光(guang)(guang)(guang)器(qi)：美國PSS粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)公司在(zai)開發儀(yi)(yi)器(qi)的(de)(de)(de)(de)過(guo)程中，考慮到在(zai)各(ge)種(zhong)極(ji)端實(shi)驗測(ce)試條件中不(bu)同(tong)的(de)(de)(de)(de)需(xu)求，對(dui)不(bu)同(tong)使(shi)用條件和環境配置了不(bu)同(tong)功(gong)率(lv)的(de)(de)(de)(de)激(ji)光(guang)(guang)(guang)發生(sheng)器(qi)。大功(gong)率(lv)的(de)(de)(de)(de)激(ji)光(guang)(guang)(guang)器(qi)可(ke)(ke)以(yi)(yi)對(dui)極(ji)小的(de)(de)(de)(de)粒(li)子(zi)也(ye)能搜集到足夠(gou)的(de)(de)(de)(de)散(san)射信號(hao)，使(shi)得(de)儀(yi)(yi)器(qi)能夠(gou)得(de)到極(ji)小粒(li)子(zi)的(de)(de)(de)(de)粒(li)徑分(fen)(fen)(fen)布。同(tong)樣，大功(gong)率(lv)激(ji)光(guang)(guang)(guang)器(qi)在(zai)測(ce)試大粒(li)子(zi)的(de)(de)(de)(de)時(shi)(shi)候同(tong)樣也(ye)很有幫助，比如在(zai)檢(jian)測(ce)右(you)旋糖酐大分(fen)(fen)(fen)子(zi)時(shi)(shi)，折(zhe)射率(lv)的(de)(de)(de)(de)特性會引起光(guang)(guang)(guang)散(san)射強度(du)(du)不(bu)足。因(yin)為大功(gong)率(lv)激(ji)光(guang)(guang)(guang)器(qi)的(de)(de)(de)(de)特性，會彌(mi)補散(san)射光(guang)(guang)(guang)強的(de)(de)(de)(de)不(bu)足和衰減，測(ce)試極(ji)其微小的(de)(de)(de)(de)微乳、表面活性劑膠束、蛋白(bai)質以(yi)(yi)及其他大分(fen)(fen)(fen)子(zi)不(bu)再(zai)是一(yi)個苛刻的(de)(de)(de)(de)難題。即使(shi)沒有色譜(pu)分(fen)(fen)(fen)離，Nicomp380納米粒(li)徑分(fen)(fen)(fen)析(xi)儀(yi)(yi)甚至也(ye)可(ke)(ke)以(yi)(yi)輕易(yi)估算出生(sheng)物高分(fen)(fen)(fen)子(zi)的(de)(de)(de)(de)聚集程度(du)(du)。檢(jian)測(ce)范(fan)圍(wei)：粒(li)徑范(fan)圍(wei) 0.3nm-10.0μm/ZETA電(dian)位(wei) +/- 500mV。怎樣選擇zeta電(dian)位(wei)及納米粒(li)度(du)(du)儀(yi)(yi)安(an)裝

Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)分(fen)(fen)(fen)布(bu)概(gai)念：基線(xian)調整自(zi)動(dong)補償功能和(he)(he)高(gao)分(fen)(fen)(fen)辨(bian)率(lv)多(duo)(duo)峰(feng)(feng)算(suan)法是(shi)Nicomp380系(xi)(xi)(xi)列儀(yi)(yi)器(qi)的(de)兩個(ge)主要特(te)點，Nicomp創(chuang)始人DaveNicole很(hen)早就認識(shi)到傳統的(de)動(dong)態(tai)光(guang)散(san)(san)射理論只給出高(gao)斯模式(shi)(shi)的(de)粒(li)度(du)分(fen)(fen)(fen)布(bu)，這和(he)(he)實踐(jian)生(sheng)產生(sheng)活中(zhong)不相符，因為現實中(zhong)很(hen)多(duo)(duo)樣本是(shi)多(duo)(duo)分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)體系(xi)(xi)(xi)，非單分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)體系(xi)(xi)(xi)，而且高(gao)斯分(fen)(fen)(fen)布(bu)靈敏(min)性不足，分(fen)(fen)(fen)辨(bian)率(lv)不高(gao)，這些特(te)點都(dou)制約了(le)納米(mi)粒(li)度(du)儀(yi)(yi)在實際生(sheng)產生(sheng)活中(zhong)的(de)使(shi)用(yong)。其開(kai)創(chuang)的(de)Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)分(fen)(fen)(fen)布(bu)理論，提高(gao)了(le)動(dong)態(tai)光(guang)散(san)(san)射理論的(de)分(fen)(fen)(fen)辨(bian)率(lv)和(he)(he)靈敏(min)性。Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)分(fen)(fen)(fen)布(bu)優勢(shi)(shi)Nicomp系(xi)(xi)(xi)列儀(yi)(yi)器(qi)均可(ke)以(yi)(yi)(yi)自(zi)由在Gaussian分(fen)(fen)(fen)布(bu)模式(shi)(shi)和(he)(he)Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)分(fen)(fen)(fen)布(bu)模式(shi)(shi)中(zhong)切換(huan)。其不只可(ke)以(yi)(yi)(yi)給出傳統的(de)DLS系(xi)(xi)(xi)統的(de)結果，更可(ke)以(yi)(yi)(yi)通過Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)分(fen)(fen)(fen)布(bu)模式(shi)(shi)體現樣品的(de)真實情況。依托于Nicomp系(xi)(xi)(xi)列儀(yi)(yi)器(qi)一系(xi)(xi)(xi)列優異的(de)算(suan)法和(he)(he)高(gao)靈敏(min)性的(de)硬件設計，Nicomp納米(mi)激光(guang)粒(li)度(du)儀(yi)(yi)可(ke)以(yi)(yi)(yi)有效區分(fen)(fen)(fen)1:2的(de)多(duo)(duo)分(fen)(fen)(fen)散(san)(san)體系(xi)(xi)(xi)。常用(yong)zeta電位及納米(mi)粒(li)度(du)儀(yi)(yi)售后服務(wu)技術優勢(shi)(shi)：6、復合(he)型算(suan)法：高(gao)斯（Gaussion）單峰(feng)(feng)算(suan)法與Nicomp多(duo)(duo)峰(feng)(feng)算(suan)法自(zi)由切換(huan)。

Nicomp多峰(feng)(feng)分(fen)布(bu)(bu)概(gai)念：基線調(diao)整自動補償功(gong)能和高(gao)(gao)分(fen)辨(bian)率多峰(feng)(feng)算法是(shi)Nicomp380系(xi)列儀器的(de)(de)(de)兩個主要特點(dian)，Nicomp創始人DaveNicole很早就(jiu)認識到傳統(tong)的(de)(de)(de)動態光(guang)(guang)散(san)(san)射理論(lun)只(zhi)給出(chu)(chu)高(gao)(gao)斯(si)模式(shi)的(de)(de)(de)粒(li)度分(fen)布(bu)(bu)，這(zhe)和實踐生(sheng)(sheng)產生(sheng)(sheng)活(huo)中(zhong)(zhong)不(bu)相符，因為(wei)現(xian)實中(zhong)(zhong)很多樣(yang)本是(shi)多分(fen)散(san)(san)體系(xi)，非單分(fen)散(san)(san)體系(xi)，而且(qie)高(gao)(gao)斯(si)分(fen)布(bu)(bu)靈(ling)敏性不(bu)足(zu)，分(fen)辨(bian)率不(bu)高(gao)(gao)，這(zhe)些特點(dian)都制約(yue)了納(na)米(mi)粒(li)度儀在(zai)實際生(sheng)(sheng)產生(sheng)(sheng)活(huo)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)使(shi)用。其(qi)開創的(de)(de)(de)Nicomp多峰(feng)(feng)分(fen)布(bu)(bu)理論(lun)，提高(gao)(gao)了動態光(guang)(guang)散(san)(san)射理論(lun)的(de)(de)(de)分(fen)辨(bian)率和靈(ling)敏性。Nicomp多峰(feng)(feng)分(fen)布(bu)(bu)優(you)勢Nicomp系(xi)列儀器均可以(yi)自由在(zai)Gaussian分(fen)布(bu)(bu)模式(shi)和Nicomp多峰(feng)(feng)分(fen)布(bu)(bu)模式(shi)中(zhong)(zhong)切換(huan)。其(qi)不(bu)只(zhi)可以(yi)給出(chu)(chu)傳統(tong)的(de)(de)(de)DLS系(xi)統(tong)的(de)(de)(de)結果(guo)，更可以(yi)通過(guo)Nicomp多峰(feng)(feng)分(fen)布(bu)(bu)模式(shi)體現(xian)樣(yang)品的(de)(de)(de)真實情況。依(yi)托(tuo)于(yu)Nicomp系(xi)列儀器一(yi)系(xi)列優(you)異的(de)(de)(de)算法和高(gao)(gao)靈(ling)敏性的(de)(de)(de)硬件設計，Nicomp納(na)米(mi)激光(guang)(guang)粒(li)度儀可以(yi)有(you)效(xiao)區分(fen)1:2的(de)(de)(de)多分(fen)散(san)(san)體系(xi)。

產(chan)品(pin)優(you)勢：一、模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)化設計(ji)：Nicomp380納米激(ji)(ji)光(guang)(guang)粒(li)(li)度儀是全(quan)球率(lv)(lv)先在(zai)(zai)應用(yong)動(dong)態光(guang)(guang)散射(she)(she)技術上(shang)的(de)(de)(de)基礎上(shang)加入多模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)方法的(de)(de)(de)先進粒(li)(li)度儀。隨(sui)著模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)的(de)(de)(de)升級和增(zeng)加，Nicomp380的(de)(de)(de)功(gong)(gong)能體(ti)系越來越強(qiang)大，可(ke)以(yi)用(yong)于各種復雜(za)體(ti)系的(de)(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)分(fen)(fen)析。二、自(zi)(zi)動(dong)稀(xi)釋模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)（選配）：自(zi)(zi)動(dong)稀(xi)釋模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)消除了人工(gong)稀(xi)釋高(gao)濃度樣(yang)品(pin)帶來的(de)(de)(de)誤差，且不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)需(xu)(xu)要人工(gong)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)斷試(shi)(shi)(shi)錯來獲得(de)合適的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)濃度，這縮短(duan)了測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)者寶貴時(shi)間(jian)，且無需(xu)(xu)培訓，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結(jie)果重現性好，誤差率(lv)(lv)＜1%。三、380/HPLD大功(gong)(gong)率(lv)(lv)激(ji)(ji)光(guang)(guang)器(qi)：美國PSS粒(li)(li)度儀公司在(zai)(zai)開(kai)發(fa)儀器(qi)的(de)(de)(de)過程中(zhong)，考慮到(dao)在(zai)(zai)各種極端實驗測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)條(tiao)件中(zhong)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)的(de)(de)(de)需(xu)(xu)求，對不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)使(shi)用(yong)條(tiao)件和環境配置了不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)同(tong)功(gong)(gong)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)激(ji)(ji)光(guang)(guang)發(fa)生(sheng)器(qi)。大功(gong)(gong)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)激(ji)(ji)光(guang)(guang)器(qi)可(ke)以(yi)對極小的(de)(de)(de)粒(li)(li)子也(ye)能搜集(ji)到(dao)足(zu)夠(gou)的(de)(de)(de)散射(she)(she)信號，使(shi)得(de)儀器(qi)能夠(gou)得(de)到(dao)極小粒(li)(li)子的(de)(de)(de)粒(li)(li)徑(jing)分(fen)(fen)布。同(tong)樣(yang)，大功(gong)(gong)率(lv)(lv)激(ji)(ji)光(guang)(guang)器(qi)在(zai)(zai)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)大粒(li)(li)子的(de)(de)(de)時(shi)候同(tong)樣(yang)也(ye)很(hen)有幫助，比如(ru)在(zai)(zai)檢測(ce)(ce)(ce)右旋糖酐大分(fen)(fen)子時(shi)，折射(she)(she)率(lv)(lv)的(de)(de)(de)特性會引起光(guang)(guang)散射(she)(she)強(qiang)度不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足(zu)。因為大功(gong)(gong)率(lv)(lv)激(ji)(ji)光(guang)(guang)器(qi)的(de)(de)(de)特性，會彌補散射(she)(she)光(guang)(guang)強(qiang)的(de)(de)(de)不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)足(zu)和衰減，測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)極其微(wei)小的(de)(de)(de)微(wei)乳、表面活性劑(ji)膠束(shu)、蛋(dan)白質(zhi)以(yi)及其他大分(fen)(fen)子不(bu)(bu)(bu)(bu)(bu)再是一個(ge)苛刻的(de)(de)(de)難(nan)題。即使(shi)沒有色譜分(fen)(fen)離，Nicomp380納米粒(li)(li)徑(jing)分(fen)(fen)析儀甚至也(ye)可(ke)以(yi)輕易估算(suan)出生(sheng)物高(gao)分(fen)(fen)子的(de)(de)(de)聚集(ji)程度。ZETA電位模(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)使(shi)用(yong)雙列直插式方形(xing)樣(yang)品(pin)池和鈀電極，一個(ge)電極可(ke)以(yi)使(shi)用(yong)成(cheng)千(qian)上(shang)萬次。

產品優(you)勢：一、模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)化(hua)設計：Nicomp380納米激(ji)光粒(li)(li)度儀(yi)是全球率(lv)(lv)先(xian)在應用(yong)動(dong)態(tai)光散射(she)技(ji)術(shu)上的(de)基礎上加入多模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)方法的(de)先(xian)進粒(li)(li)度儀(yi)。隨著模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)的(de)升級和(he)(he)(he)增(zeng)加，Nicomp380的(de)功能(neng)體系(xi)越來(lai)(lai)越強(qiang)大(da)(da)，可以(yi)用(yong)于各(ge)種復雜體系(xi)的(de)檢測(ce)(ce)分(fen)(fen)(fen)析。二、自(zi)(zi)動(dong)稀(xi)釋模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)（選(xuan)配）：自(zi)(zi)動(dong)稀(xi)釋模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)消除(chu)了人工稀(xi)釋高濃度樣品帶來(lai)(lai)的(de)誤差，且不(bu)需要人工不(bu)斷試(shi)(shi)(shi)錯(cuo)來(lai)(lai)獲得合適(shi)的(de)測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)濃度，這縮短(duan)了測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)者寶貴時(shi)間(jian)，且無(wu)需培訓，測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)結果重現(xian)性好，誤差率(lv)(lv)＜1%。三、380/HPLD大(da)(da)功率(lv)(lv)激(ji)光器(qi)：美(mei)國PSS粒(li)(li)度儀(yi)公司在開發(fa)儀(yi)器(qi)的(de)過程(cheng)中，考慮到(dao)(dao)在各(ge)種極端實驗測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)條(tiao)件中不(bu)同(tong)(tong)的(de)需求，對不(bu)同(tong)(tong)使用(yong)條(tiao)件和(he)(he)(he)環境配置了不(bu)同(tong)(tong)功率(lv)(lv)的(de)激(ji)光發(fa)生器(qi)。大(da)(da)功率(lv)(lv)的(de)激(ji)光器(qi)可以(yi)對極小的(de)粒(li)(li)子(zi)(zi)也(ye)能(neng)搜集到(dao)(dao)足(zu)夠的(de)散射(she)信號，使得儀(yi)器(qi)能(neng)夠得到(dao)(dao)極小粒(li)(li)子(zi)(zi)的(de)粒(li)(li)徑分(fen)(fen)(fen)布(bu)。同(tong)(tong)樣，大(da)(da)功率(lv)(lv)激(ji)光器(qi)在測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)大(da)(da)粒(li)(li)子(zi)(zi)的(de)時(shi)候同(tong)(tong)樣也(ye)很有幫助(zhu)，比如(ru)在檢測(ce)(ce)右(you)旋糖酐(gan)大(da)(da)分(fen)(fen)(fen)子(zi)(zi)時(shi)，折射(she)率(lv)(lv)的(de)特(te)性會引(yin)起光散射(she)強(qiang)度不(bu)足(zu)。因為大(da)(da)功率(lv)(lv)激(ji)光器(qi)的(de)特(te)性，會彌補(bu)散射(she)光強(qiang)的(de)不(bu)足(zu)和(he)(he)(he)衰減，測(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)極其微小的(de)微乳、表面活性劑膠束、蛋白質(zhi)以(yi)及(ji)其他大(da)(da)分(fen)(fen)(fen)子(zi)(zi)不(bu)再是一個苛刻(ke)的(de)難題。即(ji)使沒有色譜(pu)分(fen)(fen)(fen)離，Nicomp380納米粒(li)(li)徑分(fen)(fen)(fen)析儀(yi)甚至(zhi)也(ye)可以(yi)輕易估算出(chu)生物高分(fen)(fen)(fen)子(zi)(zi)的(de)聚集程(cheng)度。技(ji)術(shu)優(you)勢：11、模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)(kuai)化(hua)設計便于維(wei)護和(he)(he)(he)升級；（3）自(zi)(zi)動(dong)進樣系(xi)統(tong)（選(xuan)配）。廣東如(ru)何選(xuan)zeta電位及(ji)納米粒(li)(li)度儀(yi)市場

其不僅可以給出傳統的(de)DLS系統的(de)結(jie)果，更(geng)可以通過Nicomp多峰分布(bu)模(mo)式體現樣品的(de)真實情況。怎樣選(xuan)擇zeta電位及納米粒度儀(yi)安裝

Nicomp多(duo)峰分(fen)(fen)(fen)(fen)布概念：基線調整自動(dong)補償功能(neng)和高(gao)分(fen)(fen)(fen)(fen)辨(bian)率多(duo)峰算法(fa)是Nicomp380系(xi)(xi)列儀器(qi)的(de)(de)兩個(ge)主要特(te)點(dian)(dian)，Nicomp創始人DaveNicole很早就(jiu)認(ren)識到傳統的(de)(de)動(dong)態(tai)光(guang)(guang)散(san)射(she)理論(lun)只給(gei)出高(gao)斯模式(shi)(shi)的(de)(de)粒(li)(li)度分(fen)(fen)(fen)(fen)布，這(zhe)和實(shi)(shi)踐生(sheng)產生(sheng)活(huo)中不相符，因為現實(shi)(shi)中很多(duo)樣本是多(duo)分(fen)(fen)(fen)(fen)散(san)體(ti)系(xi)(xi)，非單分(fen)(fen)(fen)(fen)散(san)體(ti)系(xi)(xi)，而且高(gao)斯分(fen)(fen)(fen)(fen)布靈敏(min)性不足，分(fen)(fen)(fen)(fen)辨(bian)率不高(gao)，這(zhe)些特(te)點(dian)(dian)都制約了納米粒(li)(li)度儀在(zai)實(shi)(shi)際(ji)生(sheng)產生(sheng)活(huo)中的(de)(de)使用。其開創的(de)(de)Nicomp多(duo)峰分(fen)(fen)(fen)(fen)布理論(lun)，提高(gao)了動(dong)態(tai)光(guang)(guang)散(san)射(she)理論(lun)的(de)(de)分(fen)(fen)(fen)(fen)辨(bian)率和靈敏(min)性。Nicomp多(duo)峰分(fen)(fen)(fen)(fen)布優(you)勢Nicomp系(xi)(xi)列儀器(qi)均可(ke)(ke)以自由在(zai)Gaussian分(fen)(fen)(fen)(fen)布模式(shi)(shi)和Nicomp多(duo)峰分(fen)(fen)(fen)(fen)布模式(shi)(shi)中切換。其不只可(ke)(ke)以給(gei)出傳統的(de)(de)DLS系(xi)(xi)統的(de)(de)結(jie)果，更可(ke)(ke)以通過Nicomp多(duo)峰分(fen)(fen)(fen)(fen)布模式(shi)(shi)體(ti)現樣品的(de)(de)真實(shi)(shi)情況。依托(tuo)于Nicomp系(xi)(xi)列儀器(qi)一系(xi)(xi)列優(you)異(yi)的(de)(de)算法(fa)和高(gao)靈敏(min)性的(de)(de)硬件(jian)設計，Nicomp納米激(ji)光(guang)(guang)粒(li)(li)度儀可(ke)(ke)以有(you)效區分(fen)(fen)(fen)(fen)1:2的(de)(de)多(duo)分(fen)(fen)(fen)(fen)散(san)體(ti)系(xi)(xi)。怎(zen)樣選擇zeta電位(wei)及納米粒(li)(li)度儀安(an)裝

本文來自沈陽喜納多采(cai)暖工程有限公(gong)司(si)：//zjlong.cn/Article/58d399769.html