AOI雖然具有比人工檢測(ce)更高的(de)效率(lv)，但畢(bi)竟是通過(guo)圖像(xiang)采集和分析(xi)處(chu)(chu)理來得出結果，而圖像(xiang)分析(xi)處(chu)(chu)理的(de)相關軟(ruan)件技術目前(qian)還(huan)沒達到人腦的(de)級別，因(yin)此，在實際(ji)使用(yong)中的(de)一些特殊情況，AOI的(de)誤(wu)判(pan)(pan)、漏(lou)(lou)判(pan)(pan)在所難免。目前(qian)AOI使用(yong)中存(cun)(cun)在的(de)問題有：（1）多(duo)錫(xi)、少(shao)錫(xi)、偏移(yi)、歪(wai)斜的(de)工藝要(yao)求標準(zhun)界定(ding)不同，容易(yi)導致(zhi)誤(wu)判(pan)(pan)。（2）電(dian)容容值(zhi)不同而規(gui)格大小(xiao)(xiao)和顏色相同，容易(yi)引(yin)起漏(lou)(lou)判(pan)(pan)。（3）字符處(chu)(chu)理方(fang)式不同，引(yin)起的(de)極(ji)性判(pan)(pan)斷準(zhun)確(que)性差(cha)異(yi)較(jiao)(jiao)大。（4）大部分AOI對虛焊(han)的(de)理解發(fa)生(sheng)(sheng)歧義，造(zao)成漏(lou)(lou)判(pan)(pan)推諉(wei)。（5）存(cun)(cun)在屏蔽圈(quan)、屏蔽罩遮蔽點的(de)檢測(ce)問題。（6）BGA、FC等倒裝(zhuang)元件的(de)焊(han)接質量難以檢測(ce)。（7）多(duo)數(shu)AOI編程復雜、繁(fan)瑣且調整(zheng)時間長(chang)，不適合科研(yan)單(dan)位、小(xiao)(xiao)型OEM廠、多(duo)規(gui)格小(xiao)(xiao)批量產(chan)品的(de)生(sheng)(sheng)產(chan)單(dan)位。（8）多(duo)數(shu)AOI產(chan)品檢測(ce)速度較(jiao)(jiao)慢，有少(shao)數(shu)采用(yong)掃描方(fang)法(fa)的(de)AOI速度較(jiao)(jiao)快，但誤(wu)判(pan)(pan)、漏(lou)(lou)判(pan)(pan)率(lv)更高。AOI在SMT各工序的(de)應用(yong)在SMT中，AOI主(zhu)要(yao)應用(yong)于焊(han)膏(gao)印刷檢測(ce)、元件檢驗(yan)、焊(han)后組(zu)件檢測(ce)。河源直銷SPI檢測(ce)設備價格行情

2.2解決相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)差(cha)的(de)(de)(de)(de)(de)新技(ji)(ji)(ji)術(shu)PMP技(ji)(ji)(ji)術(shu)中另一個主要的(de)(de)(de)(de)(de)基礎條件(jian)(jian)就是對于相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)差(cha)的(de)(de)(de)(de)(de)控制。相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)法通(tong)(tong)過對投影光(guang)(guang)柵(zha)(zha)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)場(chang)進行(xing)移(yi)(yi)(yi)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)來(lai)增(zeng)加若干常量相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)而(er)得(de)到多(duo)幅(fu)光(guang)(guang)柵(zha)(zha)圖來(lai)求解相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)位(wei)場(chang)。由于多(duo)幅(fu)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖比單(dan)幅(fu)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)圖提供了(le)更多(duo)的(de)(de)(de)(de)(de)信息，所以可(ke)以得(de)到更高精(jing)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)結果。傳統的(de)(de)(de)(de)(de)方式(shi)都依(yi)靠機械移(yi)(yi)(yi)動來(lai)實現(xian)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)。為達(da)(da)到精(jing)確的(de)(de)(de)(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)，都使用了(le)比較(jiao)高精(jing)度(du)的(de)(de)(de)(de)(de)馬達(da)(da)，如(ru)通(tong)(tong)過陶瓷壓電馬達(da)(da)（PZT），線性馬達(da)(da)加光(guang)(guang)柵(zha)(zha)尺等方式(shi)。并(bing)通(tong)(tong)過大量的(de)(de)(de)(de)(de)算法來(lai)減(jian)少(shao)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)的(de)(de)(de)(de)(de)誤(wu)差(cha)。可(ke)編程(cheng)結構(gou)光(guang)(guang)柵(zha)(zha)因為其正弦(xian)光(guang)(guang)柵(zha)(zha)是通(tong)(tong)過軟(ruan)件(jian)(jian)編程(cheng)實現(xian)的(de)(de)(de)(de)(de)，所以其在(zai)(zai)相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)時也是通(tong)(tong)過軟(ruan)件(jian)(jian)來(lai)實現(xian)，通(tong)(tong)過此(ci)種(zhong)技(ji)(ji)(ji)術(shu)可(ke)以使相(xiang)(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)(yi)誤(wu)差(cha)趨向于“0”，提高了(le)量測精(jing)度(du)。并(bing)且此(ci)技(ji)(ji)(ji)術(shu)不需(xu)要機械部(bu)件(jian)(jian)，減(jian)少(shao)了(le)設(she)備(bei)的(de)(de)(de)(de)(de)故障幾率(lv)，降低機械成本與維修成本。廣東全自(zi)動SPI檢測設(she)備(bei)技(ji)(ji)(ji)術(shu)參數檢測誤(wu)判(pan)的(de)(de)(de)(de)(de)定(ding)義及存在(zai)(zai)原困誤(wu)判(pan)，歡迎(ying)了(le)解詳細情況。

PCBA工(gong)(gong)(gong)藝常見檢(jian)測(ce)設(she)備ATE檢(jian)測(ce)：AutomaticTestEquipment集成(cheng)電(dian)(dian)路(IC)自動(dong)測(ce)試(shi)(shi)機，用(yong)(yong)于(yu)檢(jian)測(ce)集成(cheng)電(dian)(dian)路功能之(zhi)完整性，為集成(cheng)電(dian)(dian)路生(sheng)產制造之(zhi)終流程(cheng)(cheng)，以確保集成(cheng)電(dian)(dian)路生(sheng)產制造之(zhi)品(pin)質。在(zai)所(suo)有的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元器(qi)件(jian)(jian)(Device)的(de)(de)(de)(de)(de)制造工(gong)(gong)(gong)藝里面(mian)，存在(zai)著(zhu)去偽存真(zhen)的(de)(de)(de)(de)(de)需(xu)(xu)要(yao)(yao)，這(zhe)(zhe)種(zhong)需(xu)(xu)要(yao)(yao)實(shi)際(ji)上是一(yi)個(ge)試(shi)(shi)驗的(de)(de)(de)(de)(de)過(guo)程(cheng)(cheng)。為了(le)(le)實(shi)現(xian)這(zhe)(zhe)種(zhong)過(guo)程(cheng)(cheng)，就需(xu)(xu)要(yao)(yao)各種(zhong)試(shi)(shi)驗設(she)備，這(zhe)(zhe)類(lei)設(she)備就是所(suo)謂的(de)(de)(de)(de)(de)ATE(AutomaticTestEquipment)。這(zhe)(zhe)里所(suo)說的(de)(de)(de)(de)(de)電(dian)(dian)子(zi)元器(qi)件(jian)(jian)DUT(DeviceUnderTest)，當然包括IC類(lei)別，此外，還包括分立的(de)(de)(de)(de)(de)元件(jian)(jian)，器(qi)件(jian)(jian)。ATE存在(zai)于(yu)前道工(gong)(gong)(gong)序(xu)(FrontEnd)和后道工(gong)(gong)(gong)序(xu)(BackEnd)的(de)(de)(de)(de)(de)各個(ge)環(huan)節(jie)，具體(ti)的(de)(de)(de)(de)(de)取決于(yu)工(gong)(gong)(gong)藝(Process)設(she)計的(de)(de)(de)(de)(de)要(yao)(yao)求。在(zai)元器(qi)件(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)(gong)藝流程(cheng)(cheng)中(zhong)(zhong)，根據工(gong)(gong)(gong)藝的(de)(de)(de)(de)(de)需(xu)(xu)要(yao)(yao)，存在(zai)著(zhu)各種(zhong)需(xu)(xu)要(yao)(yao)測(ce)試(shi)(shi)的(de)(de)(de)(de)(de)環(huan)節(jie)。目(mu)的(de)(de)(de)(de)(de)是為了(le)(le)篩選殘次品(pin)，防止(zhi)進入下一(yi)道的(de)(de)(de)(de)(de)工(gong)(gong)(gong)序(xu)，減(jian)少下一(yi)道工(gong)(gong)(gong)序(xu)中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)冗余的(de)(de)(de)(de)(de)制造費(fei)用(yong)(yong)。這(zhe)(zhe)些環(huan)節(jie)需(xu)(xu)要(yao)(yao)通過(guo)各種(zhong)物理參(can)(can)數(shu)(shu)來把(ba)握，這(zhe)(zhe)些參(can)(can)數(shu)(shu)可(ke)以是現(xian)實(shi)物理世界中(zhong)(zhong)的(de)(de)(de)(de)(de)光，電(dian)(dian)，波(bo)，力學等各種(zhong)參(can)(can)量(liang)，但是，目(mu)前大多數(shu)(shu)常見的(de)(de)(de)(de)(de)是電(dian)(dian)子(zi)信號(hao)(hao)的(de)(de)(de)(de)(de)居多。ATE設(she)計工(gong)(gong)(gong)程(cheng)(cheng)師(shi)們要(yao)(yao)考慮的(de)(de)(de)(de)(de)較(jiao)多的(de)(de)(de)(de)(de)，還是電(dian)(dian)子(zi)部(bu)分的(de)(de)(de)(de)(de)參(can)(can)數(shu)(shu)比(bi)如，時間，相位，電(dian)(dian)壓電(dian)(dian)流，等等基(ji)本的(de)(de)(de)(de)(de)物理參(can)(can)數(shu)(shu)。就是電(dian)(dian)子(zi)學所(suo)說的(de)(de)(de)(de)(de)，信號(hao)(hao)處(chu)理。

結(jie)構(gou)光(guang)(guang)柵(zha)型SPIPMP又(you)稱PSP(PhaseShiftProfilometry)技(ji)術(shu)(shu)是一種基于正(zheng)弦條(tiao)紋投(tou)影和位相(xiang)(xiang)(xiang)測(ce)量的(de)(de)光(guang)(guang)學三維(wei)面(mian)(mian)形(xing)測(ce)量技(ji)術(shu)(shu)。通過獲取全場(chang)(chang)條(tiao)紋的(de)(de)空間(jian)信(xin)(xin)息(xi)與(yu)一個條(tiao)紋周(zhou)期(qi)內相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)條(tiao)紋的(de)(de)時序信(xin)(xin)息(xi)，來完成物體三維(wei)信(xin)(xin)息(xi)的(de)(de)重(zhong)建。由(you)于其具有全場(chang)(chang)性(xing)、速度快(kuai)、高(gao)精度、自動化程度高(gao)等特點(dian)，這種技(ji)術(shu)(shu)已在(zai)(zai)工(gong)業檢測(ce)、機(ji)器視覺、逆向工(gong)程等領域(yu)獲得廣泛應用。目前大部分的(de)(de)在(zai)(zai)線SPI設(she)備都已經升級到此種技(ji)術(shu)(shu)。但是它采用的(de)(de)離(li)散相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)技(ji)術(shu)(shu)要求(qiu)有精確的(de)(de)正(zheng)弦結(jie)構(gou)光(guang)(guang)柵(zha)與(yu)精確的(de)(de)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)，在(zai)(zai)實際系統中(zhong)不可避免地存在(zai)(zai)著光(guang)(guang)柵(zha)圖像的(de)(de)非正(zheng)弦化，相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)誤(wu)(wu)差(cha)與(yu)隨機(ji)誤(wu)(wu)差(cha)，它將導致計(ji)算位相(xiang)(xiang)(xiang)和重(zhong)建面(mian)(mian)形(xing)的(de)(de)誤(wu)(wu)差(cha)。雖然已經出現了不少(shao)算法能降低線性(xing)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)誤(wu)(wu)差(cha)，但要解決(jue)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)過程中(zhong)的(de)(de)隨機(ji)相(xiang)(xiang)(xiang)移(yi)(yi)誤(wu)(wu)差(cha)問題(ti)，還(huan)存在(zai)(zai)一定的(de)(de)困難。AOI檢測(ce)設(she)備的(de)(de)作用有哪些(xie)呢？

AOI的(de)(de)發展需求(qiu)集(ji)成電(dian)路（IC）當然是(shi)現今人類工業制造(zao)(zao)出來(lai)結(jie)(jie)構較(jiao)為精(jing)細的(de)(de)人造(zao)(zao)物之一，而除了(le)以IC為主的(de)(de)半導體制造(zao)(zao)業，AOI亦在其他(ta)領(ling)域(yu)有(you)很重要的(de)(de)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)需求(qiu)。①微型(xing)元件(jian)或(huo)結(jie)(jie)構的(de)(de)形貌以及關(guan)(guan)鍵尺(chi)寸量測(ce)(ce)(ce)(ce)，典型(xing)應用(yong)(yong)(yong)就是(shi)集(ji)成電(dian)路、芯片的(de)(de)制造(zao)(zao)、封裝等，既(ji)需要高(gao)精(jing)度(du)又需要高(gao)效率(lv)的(de)(de)大量檢測(ce)(ce)(ce)(ce)②精(jing)密(mi)零件(jian)與制程的(de)(de)精(jing)密(mi)加工與檢測(ce)(ce)(ce)(ce)，典型(xing)應用(yong)(yong)(yong)就是(shi)針對(dui)工具機(ji)、航空(kong)航天(tian)器等高(gao)精(jing)度(du)機(ji)械零件(jian)進行(xing)相(xiang)關(guan)(guan)的(de)(de)粗糙度(du)、表(biao)面形狀等的(de)(de)量測(ce)(ce)(ce)(ce)，具有(you)高(gao)精(jing)度(du)、量測(ce)(ce)(ce)(ce)條件(jian)多(duo)變等特點③生(sheng)物醫學(xue)(xue)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)應用(yong)(yong)(yong)，典型(xing)應用(yong)(yong)(yong)就是(shi)各(ge)式光學(xue)(xue)顯微鏡，結(jie)(jie)合相(xiang)關(guan)(guan)程序(xu)編程、AI即可輔(fu)助判斷相(xiang)關(guan)(guan)的(de)(de)生(sheng)物、醫學(xue)(xue)信息(xi)判斷。④光學(xue)(xue)鏡頭或(huo)其他(ta)光學(xue)(xue)元件(jian)的(de)(de)像(xiang)差(cha)檢測(ce)(ce)(ce)(ce)解決(jue)相(xiang)移誤差(cha)的(de)(de)新(xin)技(ji)術——PMP技(ji)術介紹。茂名(ming)多(duo)功(gong)能(neng)SPI檢測(ce)(ce)(ce)(ce)設備維(wei)保

素材查看(kan) SMT錫(xi)(xi)膏的(de)印(yin)刷(shua)是SMT制(zhi)程中(zhong)首道工序也是SMT生產(chan)工藝的(de)重要環節，錫(xi)(xi)膏印(yin)刷(shua)質(zhi)量直接(jie)影響焊接(jie)質(zhi)量。河源(yuan)直銷SPI檢測設備(bei)價(jia)格行情

在(zai)(zai)線SPI設(she)備在(zai)(zai)實際應用中(zhong)出現的(de)(de)一(yi)(yi)些問題目前大部(bu)分的(de)(de)SMT工(gong)廠都已(yi)經(jing)開始導(dao)入在(zai)(zai)線SPI設(she)備，但是(shi)在(zai)(zai)實際使用過程中(zhong)，效果(guo)也因(yin)各廠對(dui)其重(zhong)視程度而大不(bu)(bu)一(yi)(yi)樣。究(jiu)其原(yuan)因(yin)主要有幾下(xia)幾點：品質重(zhong)視不(bu)(bu)夠目前大部(bu)分的(de)(de)工(gong)廠（特別是(shi)代工(gong)廠）在(zai)(zai)產(chan)能(neng)的(de)(de)管(guan)(guan)控(kong)上都非(fei)常的(de)(de)嚴格。但是(shi)往(wang)往(wang)對(dui)品質方面重(zhong)視不(bu)(bu)夠。當錫膏不(bu)(bu)能(neng)達到SPI設(she)備的(de)(de)管(guan)(guan)控(kong)范(fan)圍時(shi)，SPI一(yi)(yi)直會(hui)(hui)報警，沒有及(ji)時(shi)處理(li)的(de)(de)話會(hui)(hui)嚴重(zhong)影(ying)響產(chan)能(neng)。所以(yi)只要產(chan)線不(bu)(bu)出什么(me)大問題。都會(hui)(hui)把(ba)(ba)SPI的(de)(de)管(guan)(guan)控(kong)參(can)數范(fan)圍設(she)大，提高(gao)一(yi)(yi)次通(tong)(tong)過率(lv)，但是(shi)這樣往(wang)往(wang)也會(hui)(hui)把(ba)(ba)真(zhen)實的(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)流(liu)(liu)到下(xia)一(yi)(yi)制程，提高(gao)維修成本。目前有的(de)(de)工(gong)廠已(yi)經(jing)在(zai)(zai)SPI后端接一(yi)(yi)個收(shou)板(ban)箱，當SPI測試(shi)OK的(de)(de)時(shi)候(hou)直接流(liu)(liu)入下(xia)一(yi)(yi)工(gong)序，Fail的(de)(de)時(shi)候(hou)會(hui)(hui)停留在(zai)(zai)收(shou)板(ban)箱里面。等(deng)作業人(ren)員(yuan)來(lai)確認(ren)當前電(dian)路板(ban)的(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)點位是(shi)否OK。一(yi)(yi)般(ban)SPI可(ke)以(yi)查詢(xun)十(shi)片電(dian)路板(ban)的(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)信(xin)息，如不(bu)(bu)良(liang)(liang)點位，不(bu)(bu)良(liang)(liang)圖片等(deng)。也有的(de)(de)工(gong)廠已(yi)經(jing)開始把(ba)(ba)SPI與AOI相連接，通(tong)(tong)過AOI測試(shi)到的(de)(de)不(bu)(bu)良(liang)(liang)反饋給SPI來(lai)合理(li)的(de)(de)設(she)定測試(shi)范(fan)圍與參(can)數，來(lai)提高(gao)一(yi)(yi)次通(tong)(tong)過率(lv)，減(jian)少(shao)不(bu)(bu)良(liang)(liang)流(liu)(liu)入下(xia)一(yi)(yi)工(gong)序。河源(yuan)直銷SPI檢測設(she)備價格行情

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