AOI就(jiu)是(shi)(shi)自(zi)動(dong)(dong)光(guang)學(xue)(xue)辨(bian)識系統(tong),是(shi)(shi)英(ying)文(AutoOpticalInspection)的(de)縮寫，國內叫(jiao)做自(zi)動(dong)(dong)光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)儀，現(xian)在(zai)(zai)(zai)已經普(pu)遍(bian)應(ying)用在(zai)(zai)(zai)電(dian)子行(xing)業(ye)的(de)電(dian)路(lu)板(ban)組裝生(sheng)產線的(de)外(wai)觀檢(jian)查并取(qu)代以往的(de)人(ren)工目檢(jian)。AOI自(zi)動(dong)(dong)光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)設備的(de)基(ji)(ji)本原理是(shi)(shi)利用影像技術來比對(dui)待測(ce)(ce)物(wu)與標準(zhun)影像是(shi)(shi)否有(you)過大的(de)差異來判斷待測(ce)(ce)物(wu)有(you)否符(fu)合(he)(he)標準(zhun)，所以AOI的(de)好壞基(ji)(ji)本上也取(qu)決于(yu)其對(dui)影像的(de)解析度、成像能力與影像辨(bian)析技術。早期(qi)時候AOI自(zi)動(dong)(dong)光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)設備大多(duo)被拿(na)來檢(jian)測(ce)(ce)IC(積體(ti)電(dian)路(lu))封裝后的(de)表面(mian)印刷(shua)是(shi)(shi)否有(you)缺陷，隨著(zhu)技術的(de)演進，現(xian)在(zai)(zai)(zai)則被拿(na)來用在(zai)(zai)(zai)SMT組裝線上檢(jian)測(ce)(ce)電(dian)路(lu)板(ban)上的(de)零件焊錫組裝后的(de)品質狀況，或是(shi)(shi)檢(jian)查錫膏印刷(shua)后有(you)否符(fu)合(he)(he)標準(zhun)。AOI中(zhong)文全稱是(shi)(shi)自(zi)動(dong)(dong)光(guang)學(xue)(xue)檢(jian)測(ce)(ce)，是(shi)(shi)基(ji)(ji)于(yu)光(guang)學(xue)(xue)原理來對(dui)焊接生(sheng)產中(zhong)遇(yu)到的(de)常見缺陷進行(xing)檢(jian)測(ce)(ce)的(de)設備。東莞(guan)在(zai)(zai)(zai)線式(shi)AOI檢(jian)測(ce)(ce)設備維(wei)保

二(er)、AOI被應用于電(dian)(dian)子(zi)元器件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)時主(zhu)要運(yun)用在中下游領域(yu)AOI檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)目前(qian)階段主(zhu)要對于PCB印刷(shua)(shua)電(dian)(dian)路(lu)板(ban)(ban)的光板(ban)(ban)、錫膏印刷(shua)(shua)、元件(jian)(jian)、焊(han)(han)后組件(jian)(jian)以及集成電(dian)(dian)路(lu)芯片的晶(jing)圓(yuan)外(wai)觀、2D/3D、Bumping和IC封裝(zhuang)等領域(yu)開(kai)展檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)。PCB印刷(shua)(shua)電(dian)(dian)路(lu)板(ban)(ban)：PCB光板(ban)(ban)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，錫膏印刷(shua)(shua)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，元件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，焊(han)(han)后組件(jian)(jian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)等；集成電(dian)(dian)路(lu)芯片：晶(jing)圓(yuan)外(wai)觀檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、2D/3D檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，Bumping檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、IC封裝(zhuang)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)等；FPD平板(ban)(ban)顯示器：Mura缺陷(xian)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，Colorfilter檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，PI檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，LC液(ye)晶(jing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，色(se)度(du)、膜(mo)厚(hou)、光學(xue)密度(du)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)LC液(ye)晶(jing)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)，色(se)度(du)、膜(mo)厚(hou)、光學(xue)密度(du)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)；其他行業汽車(che)電(dian)(dian)子(zi)檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)、MicroCrack檢(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)(ce)等；

東(dong)莞自動化(hua)AOI檢(jian)測設備技(ji)術參數按分辨率分類(lei)： 0402元件AOI設備，0201元件AOI設備。

aoi檢(jian)(jian)(jian)測(ce)介紹(shao):AOI檢(jian)(jian)(jian)測(ce)又稱(cheng)自(zi)動(dong)(dong)光學(xue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)技(ji)術，也稱(cheng)為機(ji)器(qi)視覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)技(ji)術或自(zi)動(dong)(dong)視覺(jue)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)，是(shi)基于光學(xue)原理來對焊(han)(han)接生產中遇到的(de)(de)常見缺陷進行檢(jian)(jian)(jian)測(ce)的(de)(de)設備。當自(zi)動(dong)(dong)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)時(shi)(shi)，機(ji)器(qi)通過攝像(xiang)(xiang)頭自(zi)動(dong)(dong)掃(sao)描PCB。采集圖(tu)像(xiang)(xiang)，測(ce)試(shi)的(de)(de)焊(han)(han)點與(yu)數據(ju)庫中的(de)(de)合格的(de)(de)參(can)數進行比較，經過圖(tu)像(xiang)(xiang)處理，檢(jian)(jian)(jian)查出(chu)PCB上缺陷，并通過顯示器(qi)或自(zi)動(dong)(dong)標(biao)志把缺陷顯示/標(biao)示出(chu)來，供維(wei)修人員修整。在SMT中，AOI技(ji)術具有PCB光板檢(jian)(jian)(jian)測(ce)，焊(han)(han)膏印刷檢(jian)(jian)(jian)測(ce)、元(yuan)件檢(jian)(jian)(jian)測(ce)、焊(han)(han)后組件檢(jian)(jian)(jian)測(ce)等(deng)功能(neng)，在進行不(bu)同環節的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)時(shi)(shi)，其(qi)側重也有所(suo)不(bu)同

AOI檢(jian)測(ce)設備的(de)(de)優點(dian)1.編程簡(jian)單AOI通常是把貼片機編程完(wan)成(cheng)(cheng)后(hou)自動生(sheng)成(cheng)(cheng)的(de)(de)TXT輔助文本文件(jian)轉(zhuan)換成(cheng)(cheng)所需(xu)格式的(de)(de)文件(jian)，從中AOI獲取位置號、元(yuan)(yuan)件(jian)系列號、X坐(zuo)標(biao)、Y坐(zuo)標(biao)、元(yuan)(yuan)件(jian)旋轉(zhuan)方向這(zhe)5個參(can)(can)數，然后(hou)系統會自動產生(sheng)電(dian)路的(de)(de)布局(ju)圖，確定各元(yuan)(yuan)件(jian)的(de)(de)位置參(can)(can)數及(ji)所需(xu)檢(jian)測(ce)的(de)(de)參(can)(can)數。完(wan)成(cheng)(cheng)后(hou)，再根據工藝(yi)要求對(dui)各元(yuan)(yuan)件(jian)的(de)(de)檢(jian)測(ce)參(can)(can)數進(jin)行(xing)微調。2、操作容易(yi)由(you)于AOI基本上都采用了(le)高度智(zhi)能的(de)(de)軟件(jian)，所以(yi)并不需(xu)要操作人員具有豐(feng)富的(de)(de)專(zhuan)業知識(shi)即可(ke)進(jin)行(xing)操作。3、品(pin)質把控(kong)可(ke)以(yi)及(ji)時發(fa)現(xian)和反饋定點(dian)缺(que)陷，并分析制程問(wen)題,減(jian)少PCB板報廢發(fa)生(sheng)。4、智(zhi)能自動能夠智(zhi)能甄別所生(sheng)產的(de)(de)料號，自動板厚偵測(ce)，相機自動對(dui)焦，可(ke)搭配(pei)機械手收板5、減(jian)少生(sheng)產成(cheng)(cheng)本由(you)于AOI可(ke)放置在(zai)回流(liu)爐(lu)(lu)前對(dui)PCB進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)，可(ke)及(ji)時發(fa)現(xian)由(you)各種原因引起的(de)(de)缺(que)陷，而不必(bi)等到(dao)PCB過了(le)回流(liu)爐(lu)(lu)后(hou)才進(jin)行(xing)檢(jian)測(ce)，這(zhe)就極大(da)降低了(le)生(sheng)產成(cheng)(cheng)本。AOI的(de)(de)發(fa)展(zhan)需(xu)求集成(cheng)(cheng)電(dian)路。

（3）回(hui)流(liu)(liu)焊(han)后。在SMT工藝(yi)過程(cheng)(cheng)的(de)(de)(de)步(bu)驟進行檢(jian)查，這是目(mu)前(qian)AOI當下流(liu)(liu)行的(de)(de)(de)選擇，因(yin)為(wei)這個位(wei)(wei)置可(ke)發(fa)現(xian)全(quan)部的(de)(de)(de)裝配(pei)錯誤(wu)。回(hui)流(liu)(liu)焊(han)后檢(jian)查可(ke)以(yi)提(ti)(ti)供高(gao)度的(de)(de)(de)安全(quan)性，因(yin)為(wei)它識別由錫(xi)膏印刷、元件貼(tie)裝和(he)回(hui)流(liu)(liu)過程(cheng)(cheng)引起的(de)(de)(de)錯誤(wu)。AOI檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)的(de)(de)(de)作(zuo)用：（1）生(sheng)產(chan)與檢(jian)測(ce)同步(bu)完成，提(ti)(ti)高(gao)了整體(ti)制程(cheng)(cheng)效(xiao)率(lv)，同時(shi)保證產(chan)品(pin)品(pin)質。(2)減少人員參與，節省(sheng)人工。從(cong)PCB進入SMT生(sheng)產(chan)線，到(dao)(dao)PCB流(liu)(liu)出期間全(quan)機(ji)械化(hua)操作(zuo)，避(bi)免(mian)人為(wei)帶來的(de)(de)(de)手動(dong)或(huo)半自動(dong)的(de)(de)(de)低(di)生(sheng)產(chan)效(xiao)率(lv)工作(zuo)方式。(3)從(cong)原料(liao)到(dao)(dao)檢(jian)驗，全(quan)自動(dong)流(liu)(liu)程(cheng)(cheng)化(hua)生(sheng)產(chan)過程(cheng)(cheng)，符(fu)合中國人一(yi)步(bu)到(dao)(dao)位(wei)(wei)的(de)(de)(de)觀念(nian)。(4)AOI檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)的(de)(de)(de)應用提(ti)(ti)高(gao)了SMT貼(tie)片的(de)(de)(de)質量(liang)(liang)，避(bi)免(mian)大批量(liang)(liang)產(chan)品(pin)缺(que)陷的(de)(de)(de)出現(xian)。AOI檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)可(ke)檢(jian)測(ce)的(de)(de)(de)錯誤(wu)類型：1、刷錫(xi)后貼(tie)片前(qian)：橋接-移位(wei)(wei)-無錫(xi)-錫(xi)不足；2、貼(tie)片后回(hui)流(liu)(liu)焊(han)前(qian)：移位(wei)(wei)，漏料(liao)、極(ji)性、歪斜、腳彎、錯件；3、回(hui)流(liu)(liu)焊(han)或(huo)波峰焊(han)后：少錫(xi)/多錫(xi)、無錫(xi)短接錫(xi)球漏料(liao)-極(ji)性-移位(wei)(wei)腳彎錯件；4、PCB行業裸板檢(jian)測(ce)。AOI為(wei)自動(dong)光學(xue)檢(jian)測(ce)系統。河源AOI檢(jian)測(ce)設(she)備(bei)原理

AOI檢測設備對SMT貼(tie)片加工(gong)的重要性。東莞在線式AOI檢測設備維保

AOI工(gong)作的(de)原(yuan)理對(dui)比1.統計建模(mo)(mo)方(fang)式(shi)(shi)：圖(tu)像對(dui)比（ImageMatching）的(de)處理方(fang)式(shi)(shi)。通(tong)過對(dui)OK模(mo)(mo)板(ban)與實(shi)際(ji)圖(tu)像的(de)對(dui)比，求出差異(yi)的(de)程(cheng)度(du)，來進行檢(jian)測(ce)(ce)。這種(zhong)方(fang)式(shi)(shi)對(dui)使用(yong)人員要求低，但適應(ying)性，檢(jian)測(ce)(ce)能力(li)方(fang)面有諸多問(wen)題。早期(qi)，因為開發簡單，我國(guo)有不少AOI制(zhi)造商(shang)，加以改善（模(mo)(mo)板(ban)有多幅OJ圖(tu)像疊加而成(cheng)），美(mei)其名曰：“統計建模(mo)(mo)”。2.邏輯算法方(fang)式(shi)(shi)：通(tong)過算法對(dui)圖(tu)像的(de)特征(zheng)點的(de)抽取(qu)，來進行檢(jian)測(ce)(ce)。這種(zhong)方(fang)式(shi)(shi)對(dui)使用(yong)人員要求有一定的(de)經驗。基于算法的(de)檢(jian)測(ce)(ce)方(fang)法經過很多年的(de)發展，已經非常成(cheng)熟穩定，并且在實(shi)際(ji)運用(yong)中取(qu)得了很好的(de)效果。被行業(ye)前(qian)列的(de)AOI制(zhi)造商(shang)采(cai)用(yong)。東莞(guan)在線式(shi)(shi)AOI檢(jian)測(ce)(ce)設(she)備(bei)維保

本文來自沈(shen)陽喜納(na)多(duo)采暖工程(cheng)有限公司(si)：//zjlong.cn/Article/82d399839.html