在(zai)AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)中，同(tong)(tong)一(yi)產品的(de)(de)(de)不(bu)同(tong)(tong)批次(ci)(ci)通(tong)常需要(yao)進(jin)行(xing)重新(xin)校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)。因(yin)(yin)為不(bu)同(tong)(tong)批次(ci)(ci)的(de)(de)(de)產品可(ke)(ke)能(neng)(neng)存在(zai)微小的(de)(de)(de)制(zhi)造(zao)(zao)差異(yi)和(he)變(bian)化，例(li)如尺(chi)寸(cun)、顏色、外觀等(deng)方面的(de)(de)(de)差異(yi)。這些差異(yi)可(ke)(ke)能(neng)(neng)會對光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)性能(neng)(neng)和(he)測(ce)(ce)(ce)(ce)試結果產生一(yi)定(ding)的(de)(de)(de)影(ying)響。重新(xin)進(jin)行(xing)校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)可(ke)(ke)以(yi)確(que)(que)保光(guang)學(xue)系統按照準(zhun)確(que)(que)的(de)(de)(de)參(can)數進(jin)行(xing)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)，以(yi)適應不(bu)同(tong)(tong)批次(ci)(ci)產品的(de)(de)(de)特征并提供準(zhun)確(que)(que)的(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試結果。校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)過(guo)程(cheng)通(tong)常涉及使用標準(zhun)參(can)考樣品或基準(zhun)件(jian)來調整設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)參(can)數和(he)設(she)(she)(she)(she)置(zhi)，以(yi)確(que)(que)保設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)在(zai)新(xin)的(de)(de)(de)批次(ci)(ci)測(ce)(ce)(ce)(ce)試中能(neng)(neng)夠保持準(zhun)確(que)(que)和(he)可(ke)(ke)靠(kao)的(de)(de)(de)性能(neng)(neng)。校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)的(de)(de)(de)頻率(lv)可(ke)(ke)能(neng)(neng)因(yin)(yin)制(zhi)造(zao)(zao)環境、產品變(bian)化和(he)設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)要(yao)求(qiu)而有所不(bu)同(tong)(tong)。一(yi)般來說(shuo)，建議在(zai)每個新(xin)批次(ci)(ci)或根據設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)制(zhi)造(zao)(zao)商的(de)(de)(de)建議進(jin)行(xing)校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)。此外，還應定(ding)期檢(jian)(jian)查(cha)設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)的(de)(de)(de)準(zhun)確(que)(que)性和(he)穩(wen)定(ding)性，并在(zai)需要(yao)時進(jin)行(xing)校(xiao)(xiao)(xiao)準(zhun)和(he)維護，以(yi)確(que)(que)保檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)性能(neng)(neng)的(de)(de)(de)一(yi)致性和(he)可(ke)(ke)靠(kao)性。AOI光(guang)學(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)器(qi)具有自動糾正誤差的(de)(de)(de)能(neng)(neng)力，有效避免了逆變(bian)器(qi)等(deng)電子設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)在(zai)運行(xing)過(guo)程(cheng)中的(de)(de)(de)故障。北京AOI光(guang)學(xue)自動檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)(she)備(bei)(bei)(bei)方案

AOI光(guang)(guang)學檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設備(bei)處(chu)(chu)理(li)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)結果(guo)的(de)步(bu)驟通(tong)(tong)(tong)常(chang)包括以(yi)(yi)下幾個(ge)方(fang)面(mian)：圖(tu)像(xiang)(xiang)采(cai)集(ji)(ji)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)處(chu)(chu)理(li)：AOI設備(bei)首先采(cai)集(ji)(ji)待檢(jian)(jian)測(ce)(ce)物(wu)體的(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)，這(zhe)可以(yi)(yi)通(tong)(tong)(tong)過(guo)攝像(xiang)(xiang)頭或其他光(guang)(guang)學傳(chuan)感器(qi)實現。采(cai)集(ji)(ji)到的(de)圖(tu)像(xiang)(xiang)會經過(guo)圖(tu)像(xiang)(xiang)處(chu)(chu)理(li)算法，進(jin)行(xing)去(qu)噪(zao)、圖(tu)像(xiang)(xiang)增強(qiang)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)特征提取等(deng)操(cao)作，以(yi)(yi)準備(bei)后續的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)析(xi)。缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)類：檢(jian)(jian)測(ce)(ce)算法會對(dui)圖(tu)像(xiang)(xiang)進(jin)行(xing)缺(que)陷(xian)(xian)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)分(fen)類。根據設定(ding)(ding)(ding)的(de)規則和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)算法，檢(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)會識別和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)標(biao)記出(chu)物(wu)體上的(de)缺(que)陷(xian)(xian)、錯(cuo)誤或異(yi)常(chang)。這(zhe)些缺(que)陷(xian)(xian)可以(yi)(yi)包括焊接問題、元件偏移(yi)、短路(lu)、開路(lu)、錯(cuo)位(wei)、損傷等(deng)。結果(guo)分(fen)析(xi)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)數(shu)據處(chu)(chu)理(li)：AOI系統(tong)(tong)會將檢(jian)(jian)測(ce)(ce)結果(guo)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)數(shu)據處(chu)(chu)理(li)。這(zhe)包括統(tong)(tong)計分(fen)析(xi)缺(que)陷(xian)(xian)的(de)數(shu)量(liang)、類型和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)位(wei)置分(fen)布，生成缺(que)陷(xian)(xian)報(bao)告和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)統(tong)(tong)計圖(tu)表等(deng)。這(zhe)些數(shu)據可以(yi)(yi)幫助制(zhi)造商識別生產過(guo)程(cheng)(cheng)中的(de)問題，并(bing)采(cai)取相應的(de)措施進(jin)行(xing)改進(jin)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)糾(jiu)正。異(yi)常(chang)處(chu)(chu)理(li)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)報(bao)警：當檢(jian)(jian)測(ce)(ce)系統(tong)(tong)發現異(yi)常(chang)或缺(que)陷(xian)(xian)時(shi)，可以(yi)(yi)觸(chu)發報(bao)警機制(zhi)，通(tong)(tong)(tong)知(zhi)操(cao)作員進(jin)行(xing)處(chu)(chu)理(li)。報(bao)警方(fang)式可以(yi)(yi)是聲音提示(shi)、光(guang)(guang)信號或在(zai)顯(xian)示(shi)屏(ping)上彈出(chu)警告信息(xi)。操(cao)作員可以(yi)(yi)根據報(bao)警信息(xi)來定(ding)(ding)(ding)位(wei)和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)修復(fu)問題，以(yi)(yi)確(que)保生產線的(de)穩(wen)定(ding)(ding)(ding)性和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)質量(liang)。北京(jing)AOI光(guang)(guang)學自動檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設備(bei)方(fang)案AOI光(guang)(guang)學檢(jian)(jian)測(ce)(ce)可提高產品質量(liang)穩(wen)定(ding)(ding)(ding)性和(he)(he)(he)(he)(he)(he)(he)過(guo)程(cheng)(cheng)控制(zhi)能力，滿足(zu)市場(chang)需求。

AOI光學(xue)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設備可(ke)(ke)以通(tong)(tong)過(guo)以下方式進行數據(ju)分析(xi)和(he)(he)(he)(he)處理：缺陷(xian)(xian)(xian)統計分析(xi)：通(tong)(tong)過(guo)對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)結(jie)果中(zhong)(zhong)的(de)(de)缺陷(xian)(xian)(xian)進行統計分析(xi)，可(ke)(ke)以計算缺陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)數量、類型和(he)(he)(he)(he)位置分布(bu)等(deng)信(xin)息。這有(you)助于了解常(chang)見缺陷(xian)(xian)(xian)模式，并針對(dui)性地(di)采(cai)取措施改善(shan)生(sheng)產(chan)(chan)過(guo)程。趨勢(shi)分析(xi)：通(tong)(tong)過(guo)比(bi)較不同時間段的(de)(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)結(jie)果，可(ke)(ke)以研(yan)究(jiu)缺陷(xian)(xian)(xian)的(de)(de)趨勢(shi)和(he)(he)(he)(he)變化。這有(you)助于識別(bie)生(sheng)產(chan)(chan)過(guo)程中(zhong)(zhong)的(de)(de)潛(qian)在問(wen)題，并做出及時的(de)(de)調整和(he)(he)(he)(he)改進。產(chan)(chan)品質量分析(xi)：將檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)結(jie)果與產(chan)(chan)品規范(fan)和(he)(he)(he)(he)標(biao)(biao)準(zhun)進行比(bi)較，可(ke)(ke)以評估(gu)產(chan)(chan)品的(de)(de)質量水平。通(tong)(tong)過(guo)分析(xi)通(tong)(tong)過(guo)率(lv)、誤報(bao)率(lv)和(he)(he)(he)(he)缺陷(xian)(xian)(xian)率(lv)等(deng)指(zhi)標(biao)(biao)，可(ke)(ke)以衡(heng)量產(chan)(chan)品性能，并確(que)定生(sheng)產(chan)(chan)線中(zhong)(zhong)的(de)(de)瓶頸和(he)(he)(he)(he)改善(shan)點。故(gu)障分析(xi)：對(dui)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)結(jie)果中(zhong)(zhong)的(de)(de)異常(chang)情況進行深(shen)入(ru)分析(xi)，可(ke)(ke)以識別(bie)設備故(gu)障或異常(chang)操作的(de)(de)原因。這有(you)助于快(kuai)速(su)診斷問(wen)題并采(cai)取修復措施，以確(que)保設備的(de)(de)正常(chang)運行。

AOI光(guang)學檢測(ce)(ce)(ce)設(she)(she)(she)備(bei)(bei)在(zai)3D打(da)印(yin)行業中可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)提(ti)供(gong)(gong)以(yi)(yi)(yi)(yi)下(xia)支(zhi)持，并(bing)(bing)幫助設(she)(she)(she)計師進(jin)行產(chan)(chan)品(pin)(pin)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)控制：檢測(ce)(ce)(ce)打(da)印(yin)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)：AOI設(she)(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)對(dui)3D打(da)印(yin)產(chan)(chan)品(pin)(pin)進(jin)行多方面(mian)的(de)檢測(ce)(ce)(ce)，包括表面(mian)缺陷(xian)、尺(chi)(chi)寸偏(pian)差、形狀精度等。它可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)提(ti)供(gong)(gong)高(gao)分辨率(lv)的(de)圖像和數據(ju)，幫助設(she)(she)(she)計師快速發現并(bing)(bing)解決(jue)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)問題(ti)。檢測(ce)(ce)(ce)支(zhi)撐(cheng)(cheng)結構(gou)：在(zai)3D打(da)印(yin)過(guo)程中，支(zhi)撐(cheng)(cheng)結構(gou)是用于支(zhi)撐(cheng)(cheng)打(da)印(yin)物體(ti)的(de)臨時結構(gou)。AOI設(she)(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)檢測(ce)(ce)(ce)這些支(zhi)撐(cheng)(cheng)結構(gou)的(de)完(wan)整性(xing)和正(zheng)確性(xing)，確保其在(zai)打(da)印(yin)完(wan)成后(hou)能(neng)夠容易(yi)地(di)去除，并(bing)(bing)且不會對(dui)然后(hou)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)產(chan)(chan)生(sheng)負面(mian)影響。尺(chi)(chi)寸測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)：AOI設(she)(she)(she)備(bei)(bei)通過(guo)對(dui)3D打(da)印(yin)產(chan)(chan)品(pin)(pin)進(jin)行尺(chi)(chi)寸測(ce)(ce)(ce)量(liang)(liang)，可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)幫助設(she)(she)(she)計師驗證產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)實際尺(chi)(chi)寸是否與設(she)(she)(she)計要(yao)求一致。這對(dui)于保證產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)準確性(xing)和一致性(xing)非常(chang)重要(yao)。表面(mian)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)檢測(ce)(ce)(ce)：AOI設(she)(she)(she)備(bei)(bei)可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)檢測(ce)(ce)(ce)3D打(da)印(yin)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)表面(mian)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)，包括表面(mian)光(guang)滑度、孔(kong)洞、凹(ao)陷(xian)等。設(she)(she)(she)計師可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)通過(guo)這些檢測(ce)(ce)(ce)結果(guo)進(jin)行優化，并(bing)(bing)改進(jin)打(da)印(yin)參數以(yi)(yi)(yi)(yi)提(ti)高(gao)產(chan)(chan)品(pin)(pin)的(de)表面(mian)質(zhi)(zhi)量(liang)(liang)。AOI光(guang)學檢測(ce)(ce)(ce)技術可(ke)(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)(yi)在(zai)無人工干預的(de)情況下(xia)實現產(chan)(chan)品(pin)(pin)檢測(ce)(ce)(ce)，提(ti)高(gao)制造(zao)效率(lv)。

在AOI光學檢(jian)測(ce)設(she)(she)(she)備的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)使(shi)用(yong)過程(cheng)中，以(yi)(yi)下(xia)是一些防止惡(e)(e)意軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)攻擊(ji)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)常見(jian)措(cuo)施：更(geng)新(xin)和(he)維(wei)護操(cao)作(zuo)系統(tong)(tong)和(he)軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)：確保設(she)(she)(she)備上的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)操(cao)作(zuo)系統(tong)(tong)和(he)相(xiang)關軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)始(shi)終是較新(xin)版本，并及時(shi)安(an)裝補丁和(he)更(geng)新(xin)。這可(ke)以(yi)(yi)修(xiu)(xiu)復已(yi)知的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)安(an)全(quan)(quan)漏洞，并提高(gao)系統(tong)(tong)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)安(an)全(quan)(quan)性。強(qiang)化網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)安(an)全(quan)(quan)：配置強(qiang)密碼策略，限(xian)制(zhi)遠程(cheng)訪問和(he)網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)服務，并設(she)(she)(she)置防火墻，以(yi)(yi)阻(zu)止未經授權的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)訪問和(he)網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)攻擊(ji)。還可(ke)以(yi)(yi)考慮使(shi)用(yong)虛擬(ni)專門(men)網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)（VPN）來(lai)加密網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)連接。定期進(jin)行安(an)全(quan)(quan)審(shen)(shen)計：對(dui)設(she)(she)(she)備進(jin)行定期的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)安(an)全(quan)(quan)審(shen)(shen)計和(he)漏洞掃描(miao)，以(yi)(yi)發(fa)現可(ke)能存(cun)在的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)安(an)全(quan)(quan)風險并采取相(xiang)應措(cuo)施。還應建立安(an)全(quan)(quan)事件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)響(xiang)應計劃，以(yi)(yi)便在遭遇安(an)全(quan)(quan)事件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)時(shi)能夠(gou)快速(su)應對(dui)和(he)處置。員工(gong)培訓和(he)意識(shi)提高(gao)：提供針對(dui)設(she)(she)(she)備用(yong)戶的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)安(an)全(quan)(quan)培訓，教育(yu)他們識(shi)別(bie)和(he)防范常見(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)網(wang)(wang)絡(luo)(luo)(luo)威脅和(he)攻擊(ji)方式。加強(qiang)員工(gong)對(dui)惡(e)(e)意軟(ruan)(ruan)件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)識(shi)別(bie)能力，教育(yu)他們不輕易點擊(ji)可(ke)疑鏈接或打(da)開(kai)來(lai)自(zi)未知來(lai)源的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)附件(jian)(jian)(jian)(jian)(jian)。AOI光學檢(jian)測(ce)設(she)(she)(she)備可(ke)以(yi)(yi)實(shi)時(shi)監(jian)控生產線上的(de)(de)(de)(de)(de)(de)(de)產品(pin)，即時(shi)發(fa)現問題進(jin)行修(xiu)(xiu)正。遼寧AOI光學檢(jian)測(ce)加工(gong)設(she)(she)(she)備定制(zhi)

AOI光學檢(jian)測(ce)技術可(ke)以(yi)幫助企業實現存貨減少、周轉快速、成本低廉等(deng)效益。北京(jing)AOI光學自動檢(jian)測(ce)設備(bei)方案

AOI光學檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)(bei)在產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)質量提(ti)(ti)高方(fang)(fang)面(mian)發揮(hui)著重要作用(yong)，具體包(bao)括以下(xia)幾個(ge)方(fang)(fang)面(mian)：缺(que)(que)(que)陷檢(jian)(jian)測(ce)(ce)：AOI設(she)備(bei)(bei)(bei)能(neng)(neng)夠(gou)快(kuai)速準(zhun)確(que)(que)地檢(jian)(jian)測(ce)(ce)出各類(lei)缺(que)(que)(que)陷，如焊點問題(ti)、短路、開路、電壓(ya)異常、漏電等。通過(guo)自(zi)動化的(de)圖像(xiang)分析(xi)和算法識別，它(ta)(ta)可(ke)(ke)以檢(jian)(jian)測(ce)(ce)到人眼難以察覺的(de)微小缺(que)(que)(que)陷，確(que)(que)保產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)質量。質量控(kong)制(zhi)：AOI設(she)備(bei)(bei)(bei)可(ke)(ke)以在生(sheng)產(chan)(chan)線上實時(shi)進行(xing)(xing)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，將檢(jian)(jian)測(ce)(ce)結果(guo)與設(she)定(ding)的(de)標準(zhun)進行(xing)(xing)比(bi)較，及時(shi)發現和攔截有缺(que)(que)(que)陷的(de)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)。這有助于防止缺(que)(que)(que)陷產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)流入市場或下(xia)游(you)工序，保證產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)一致性(xing)和符合性(xing)，提(ti)(ti)高整(zheng)體的(de)質量水平(ping)。自(zi)動化檢(jian)(jian)測(ce)(ce)：與人工檢(jian)(jian)查相比(bi)，AOI設(she)備(bei)(bei)(bei)具備(bei)(bei)(bei)快(kuai)速且可(ke)(ke)靠的(de)自(zi)動化檢(jian)(jian)測(ce)(ce)能(neng)(neng)力。它(ta)(ta)可(ke)(ke)以處(chu)理大(da)量的(de)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)，并在短時(shi)間(jian)內完成(cheng)(cheng)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)，很大(da)程度提(ti)(ti)高了(le)生(sheng)產(chan)(chan)效(xiao)率。此外，它(ta)(ta)也減少了(le)對人力資源的(de)依(yi)賴，降(jiang)低了(le)勞動成(cheng)(cheng)本。數(shu)(shu)據(ju)(ju)分析(xi)和改進：AOI設(she)備(bei)(bei)(bei)可(ke)(ke)以生(sheng)成(cheng)(cheng)詳細的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)報告(gao)和數(shu)(shu)據(ju)(ju)分析(xi)，記錄每個(ge)產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)的(de)檢(jian)(jian)測(ce)(ce)結果(guo)。通過(guo)分析(xi)這些數(shu)(shu)據(ju)(ju)，可(ke)(ke)以發現缺(que)(que)(que)陷產(chan)(chan)生(sheng)的(de)原(yuan)因和規律，幫助企業改進產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)設(she)計(ji)、工藝和生(sheng)產(chan)(chan)過(guo)程，從(cong)而提(ti)(ti)高產(chan)(chan)品(pin)(pin)(pin)(pin)質量。北京(jing)AOI光學自(zi)動檢(jian)(jian)測(ce)(ce)設(she)備(bei)(bei)(bei)方(fang)(fang)案

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